''醫師 ,我收到醫院寄給我的抹片報告,說有抹片異常''
這是在門診十分常見的病患就醫原因
抹片異常到底該怎麼處理呢??
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子宮頸抹片檢查報告的分級?
先前台灣地區使用的子宮頸抹片檢查報告的分級是採用分級分類法,但常令人產生混淆。目前衛生署統一全國基層衛生單位實施1991年重新修定過的Bethesda System。其內容如下:
Bethesda System:抹片判讀結果
• 抹片品質:(1)良好 (2)尚可 (3)抹片難以判讀
• 抹片尚可或難以判讀之原因:
1. 抹片固定或保存不良
2. 細胞太少
3. 細胞太厚或血液太多
4. 沒有子宮內頸成份
5. 炎症細胞過多
6. 存在外來物(如潤滑劑)
7. 過多細胞溶解或自溶
8. 其他
• 可能的感染
1. Candida 念珠菌
2. Trichomonas 陰道滴蟲
3. Herpes 皰疹病毒
4. Human papilloma virus 人類乳突狀病毒
5. Chlamydiae 螺旋菌
6. Others 其它
何謂抹片異常?
但有時細胞在子宮頸表面呈現異常並非一定是癌症,且切記所謂異常並非一定會造成癌症,有時其還比癌症危險。因此,女性們必須去詢問她們的醫師相關檢查的結果及真正代表什麼臨床意義。
以下有幾個術語是用來描述異常結果:
• 分化不良Dysplasia是用來描訴異常的細胞。分化不良是指子宮頸上皮細胞型態經過一連串的改變。細胞在顯微鏡底下看起來是異常的,但它們並未侵入周圍正常的組織。分化不良依細胞在顯微鏡下呈現的型態異常程度分成輕度、中度、重度三種。
• 鱗狀上皮內病灶Squamous intraepithelial lesion(SIL)是另一個用來描訴子宮頸表面細胞異常的改變。「鱗狀的」是一種扁平且薄,出現在子宮頸表面的細胞;而「病灶」是指異常的組織;「上皮內病灶」是指異常僅出現在細胞表層。醫師可能會將鱗狀上皮內病灶區分成低度的(Low SIL)(指形狀、體積及細胞數量早期的改變)和高度的(High SIL)(出現大量的癌前細胞者)。
• 子宮頸上皮內贅瘤Cervical intraepithelial neoplasia(CIN)也是一個常用來描訴異常細胞的名詞。「贅瘤」是指新的異常細胞的生長;「上皮內」是指病變發生在表皮細胞;而CIN1~3是指子宮頸異常細胞的程度。
上述這些名詞如何區分?
• 「輕度分化不良(mild dysplasia)」有時會被列等為「第一級CIN」或「低度鱗狀上皮內病灶(LSIL)」。
• 「中度分化不良moderate dysplasia」有時會被列等為「第二級CIN」或「高度鱗狀上皮內病灶(HSIL)」。
• 「重度分化不良Severe dysplasia」有時會被列等為「第三級CIN」或「高度鱗狀上皮內病灶(HSIL)」。
• 「原位癌(CIS)」有時會被列等為「第三級CIN」或「高度鱗狀上皮內病灶(HSIL)」。
• 原位癌Carcinoma in situ是指非侵襲癌,其病變只局限在表層細胞並未侵襲到深部間質組織。當異常細胞侵襲到子宮頸較深部或其它組織、器官時就發展成子宮頸癌或侵襲性子宮頸癌。
什麼是非典型鱗狀上皮細胞但意義未明者Atypical squamous cells of undermined significance(ASCUS)?
細胞異常程度尚未達到鱗狀上皮內病灶、子宮頸上皮內贅瘤或分化不良稱為非典型鱗狀上皮細胞但意義未明者。持續異常的抹片檢查需經由醫師作進一步的評估。
抹片不正常時怎麼辦?
如果抹片結果呈現懷疑或輕微的異常,則醫師必須重複檢查以再確定。如果抹片結果呈現顯著的異常,則醫師可能會實施陰道鏡檢以檢查陰道與子宮頸。陰道鏡並不會置入體內。在某些時候,醫師會在陰道鏡診視下直接取出少量子宮頸組織以供病理科醫師做檢驗。這個過程稱為切片檢查,它是可以確定異常細胞是否為癌症的方法。有時,需到手術房做錐狀切片。
以下為抹片檢查結果處理方式:
I. 正常:抹片結果正常,每年仍須定期做一次抹片檢查。
II. 異常:處理方式
1. 發炎:局部治療,六週後重做抹片檢查。
2. 人類乳突狀病毒(HPV)感染:3至六個月追蹤檢查。
3. CIN1(輕度分化不良):3至六個月再做抹片檢查或做陰道鏡檢查。
4. CIN2(中度分化不良):必須做陰道鏡切片檢查。
5. CIN3(重度分化不良):必須做陰道鏡切片檢查。
6. 子宮頸癌:必須立即到醫院就醫治療。
III. 如果抹片難以判讀,應立即重做檢查。
sil評估 在 Analog Devices台灣亞德諾半導體股份有限公司 Facebook 的精選貼文
ADI提升智慧電網輸配電設備的監測和保護性能
(2015年10月30日台北訊)全球高效能訊號處理解決方案領導廠商Analog Devices(ADI)美商亞德諾半導體公司宣佈推出新系列的24 位元資料採集系統單晶片 (SoC),可改善智慧電網系統中管理電能輸配電的保護、監控和電能品質測量裝置的性能。AD7770 可實現性能更高和外形尺寸更小的保護繼電器,而AD7771 則可幫助電能品質測量設備進行電網早期故障的檢測。
該系列中的第三款 SoC AD7779則可確保斷路器裝置快速上電。AD777x 系列的三款產品實現了業界最佳的動態範圍和資料傳輸綜合性能,具有8個同步取樣通道,可在三相電源應用中測量電流和電壓感測器的輸出。每個SoC 通道在 8 kSPS時可達 112 dB動態範圍,從而強化了單一 A/D 轉換器通道中的保護和測量功能。AD777x 系列還整合了取樣速率轉換器,簡化電能品質設備的設計挑戰,使其更容易滿足 IEC61000-4-30 Class A標準。
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AD777x 系列還內建可調整不同感測器輸出的可編程增益放大器 (PGA),讓系統設計工程師能使用通用平台滿足各種應用需求,這些應用可能具有不同精準度和輸入感測器類型,包括變流器、變壓器、電阻串等。此外, AD777x 系列因可省去對諸如信號調節放大器和鎖相迴路 (Pll)等外部元件的需求,所以可降低系統總成本。另外,因全部的 AD777x 系列皆包含取樣速率轉換器,對取樣速率進行微調,確保在50Hz(-15%) 到 60 Hz (+ 15%)範圍內的線路頻率一致性,變化範圍保持在0.01 Hz 以內。這是IEC61000-4-30 Class A電能品質標準的要求。
新產品中還具有多種內建的診斷功能,幫助簡化設計過程,使終端設備通過安全完整性等級 (SIL) 認證。還有一個額外的低解析度 SAR A/D 轉換器通道,利用獨立的電源操作,為系統和晶片診斷提供資料,提高資料完整性並增強系統的綜合可靠性。AD7771 的高動態範圍與極高取樣速率,能減少快速傅立葉轉換(FFT) 的雜訊基準,從而強化對異常雜散頻率 (spur)的檢測,發出電氣故障信號,並透過電能品質測量設備實現早期警告探測和預防性維護措施。